تست‌های قبل از نصب (مرتبط با بازده و خرابی‌های عملکردی)

این تست‌ها در کارخانه یا آزمایشگاه برای بررسی بازده و شناسایی عیوب بالقوه‌ای که می‌توانند عملکرد پنل را کاهش دهند، انجام می‌شوند.

تست شبیه‌ساز خورشیدی برای اندازه‌گیری بازده (Solar Simulator Test) 

استاندارد:  IEC 60904-9 (اندازه‌گیری مشخصات فتوولتائیک) و IEC 61215-2 (MQT 06)

توضیح: این تست با شبیه‌ساز خورشیدی تحت شرایط استاندارد آزمایش (STC: تابش 1000 وات بر مترمربع، دمای 25 درجه سانتی‌گراد، AM 1.5) توان خروجی، راندمان و منحنی جریان-ولتاژ (I-V) پنل را اندازه‌گیری می‌کند. انحراف از مشخصات نامی می‌تواند نشان‌دهنده نقص در سلول‌ها یا اتصالات باشد.

خرابی‌های شناسایی‌شده: سلول‌های معیوب، اتصالات ضعیف، یا افت توان غیرمنتظره. تست الکترولومینسانس (Electroluminescence Test)

استاندارد:  IEC 61215-2 (مرتبط با MQT 01 و روش‌های کیفی)

توضیح: با استفاده از دوربین‌های الکترولومینسانس، عیوب میکروسکوپی مانند ترک‌های ریز (micro-cracks)، نقص لحیم‌کاری، یا سلول‌های غیرفعال شناسایی می‌شوند. این عیوب می‌توانند باعث کاهش بازده یا خرابی زودهنگام شوند.

خرابی‌های شناسایی‌شده: ترک‌های ریز، سلول‌های مرده، نقص در busbar یا اتصالات.

تست افت توان ناشی از دما (Temperature Coefficient Test)

استاندارد:  IEC 61215-2 (MQT 08) و IEC 60891

توضیح: این تست بررسی می‌کند که بازده پنل با افزایش دما چقدر کاهش می‌یابد. ضریب دمایی (معمولاً به‌صورت درصد کاهش توان به ازای هر درجه سانتی‌گراد) اندازه‌گیری می‌شود. پنل‌های با ضریب دمایی بالا در محیط‌های گرم عملکرد ضعیف‌تری دارند.

خرابی‌های شناسایی‌شده: کاهش غیرمنتظره بازده در دماهای بالا، نقص مواد نیمه‌هادی.

تست پایداری توان خروجی (Power Stabilization Test)

استاندارد:  IEC 61215-2 (MQT 19)

توضیح: این تست افت توان اولیه (LID: Light-Induced Degradation یا PID: Potential-Induced Degradation) را بررسی می‌کند. پنل در معرض نور یا ولتاژ بالا قرار می‌گیرد تا پایداری توان آن ارزیابی شود. افت توان بیش از حد نشان‌دهنده نقص مواد یا طراحی است.

خرابی‌های شناسایی‌شده: افت توان ناشی از LID یا PID، نقص در لایه‌های محافظ یا سلول‌ها.

تست عایق الکتریکی (Insulation Resistance Test)

استاندارد:  IEC 61215-2 (MQT 03)

توضیح: این تست مقاومت عایق پنل را در برابر نشتی جریان بررسی می‌کند. نشتی جریان می‌تواند باعث کاهش بازده یا خرابی کامل پنل شود. ولتاژ بالایی (معمولاً 1000 ولت) اعمال می‌شود.

خرابی‌های شناسایی‌شده: عیوب عایق، اتصالات معیوب، یا نفوذ رطوبت به جعبه اتصال.

تست‌های بعد از نصب (مرتبط با بازده و خرابی‌های عملکردی)

این تست‌ها در محل نصب برای ارزیابی عملکرد واقعی و شناسایی خرابی‌هایی که ممکن است پس از نصب رخ دهند، انجام می‌شوند.

تست عملکرد میدانی (Field Performance Test) 

استاندارد:  IEC 61724-1 (مانیتورینگ سیستم‌های فتوولتائیک)

توضیح: این تست بازده واقعی پنل‌ها را در شرایط محیطی (تابش، دما، رطوبت) با استفاده از سنسورهای تابش و دستگاه‌های اندازه‌گیری توان بررسی می‌کند. داده‌ها با مشخصات STC مقایسه می‌شوند تا افت عملکرد شناسایی شود.

خرابی‌های شناسایی‌شده: کاهش بازده به دلیل گردوغبار، نقاط داغ، یا نقص اتصالات.

تست تصویربرداری حرارتی (Thermal Imaging Test)

استاندارد: بدون استاندارد خاص، اما بر اساس روش‌های صنعتی مانند ASTM E1934

توضیح: با دوربین‌های حرارتی، نقاط داغ (hot spots) یا مناطق با دمای غیرعادی شناسایی می‌شوند. نقاط داغ می‌توانند ناشی از سلول‌های معیوب، اتصالات ضعیف، یا سایه جزئی باشند و بازده را کاهش دهند.

خرابی‌های شناسایی‌شده: نقاط داغ، سلول‌های معیوب، نقص در اتصالات الکتریکی.

تست  PID (Potential-Induced Degradation Test)

استاندارد:  IEC TS 62804-1

توضیح: این تست افت توان ناشی از ولتاژ بالا در شرایط میدانی را بررسی می‌کند. پنل‌ها در معرض ولتاژ و رطوبت قرار می‌گیرند تا مقاومت آن‌ها در برابر PID ارزیابی شود. PID می‌تواند بازده را به‌شدت کاهش دهد.

خرابی‌های شناسایی‌شده: افت توان ناشی از نشتی جریان، نقص در لایه‌های عایق یا مواد سلول.

تست نشتی جریان در شرایط مرطوب (Wet Leakage Current Test)

استاندارد:  IEC 61215-2 (MQT 15)

توضیح: این تست ایمنی و عملکرد پنل را در شرایط مرطوب (مانند باران) بررسی می‌کند. پنل در آب غوطه‌ور شده و جریان نشتی به قاب آن اندازه‌گیری می‌شود. نشتی جریان می‌تواند باعث کاهش بازده یا خرابی شود.

خرابی‌های شناسایی‌شده: نفوذ رطوبت، نقص در عایق یا جعبه اتصال.

تست منحنی I-V میدانی (Field I-V Curve Test)

استاندارد:  IEC 60891 (روش‌های اندازه‌گیری  I-V)

توضیح: این تست منحنی جریان-ولتاژ پنل‌ها را در شرایط واقعی اندازه‌گیری می‌کند تا بازده و عملکرد آن‌ها با مشخصات نامی مقایسه شود. انحرافات می‌توانند نشان‌دهنده خرابی یا نقص نصب باشند.

خرابی‌های شناسایی‌شده: کاهش بازده به دلیل نقص سلول، اتصالات ضعیف، یا سایه.

نکات کلیدی

تمرکز بر بازده: تست‌های شبیه‌ساز خورشیدی، عملکرد میدانی، و I-V مستقیماً بازده پنل را ارزیابی می‌کنند. تست‌های PID و افت توان ناشی از دما نیز برای پیش‌بینی عملکرد بلندمدت در شرایط خاص حیاتی هستند.

خرابی‌های رایج: ترک‌های ریز، نقاط داغ، PID، و نشتی جریان از مهم‌ترین عواملی هستند که بازده را کاهش می‌دهند. تست‌های EL و تصویربرداری حرارتی برای شناسایی این عیوب بسیار مؤثرند.

محدودیت‌ها: برخی تست‌ها (مانند PID) نیاز به تجهیزات تخصصی دارند و ممکن است در محل پروژه چالش‌برانگیز باشند. در این موارد، داده‌های آزمایشگاهی می‌توانند مکمل باشند.